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    安捷倫在京推出紫外可見分光光度計

    2014年2月25日,安捷倫在北京舉辦了“2014光譜新技術研討會”。安捷倫化學分析事業部大中華區總經理丁再福、生命科學和化學分析事業部大中華區市場總監何峻、大中華區材料測試與光譜市場經理陳玉紅、ICP-OES/MP-AES產品經理Ross Ashdown、ICP-MS產品經理Tomoyuki Yamada等分享了行業觀點及安捷倫紫外可見分光光度計最新技術:7900電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)和4200微波等離子體原子發射光譜儀(MP-AES)。

    安捷倫科技副總裁、化學分析事業部大中華區總經理丁再福博士致辭,他講到:“我們對原子光譜在國內的應用和對無機元素檢測發展的推動作用表示樂觀。中國是安捷倫全球最重要的市場之一,中國的無機元素檢測也處于該領域內的前沿水平;而國內無機元素檢測的需求日趨復雜,用戶也相應地對原子光譜產品技術提出更高的要求。我們將繼續與國內用戶緊密協作,通過聆聽用戶的建議來幫助我們更加準確地把握創新方向,并不斷推出新品。我相信,安捷倫原子光譜能夠為中國用戶帶來更多、更完美并更有針對性的無機元素檢測解決方案,幫助中國用戶更好地實現無機元素檢測目標,提供前所未有的應用能力和研究機遇?!?/p>

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